當前位置:主頁 > 技術(shù)文章 > X射線熒光光譜儀原理分析
X射線熒光光譜儀原理分析
更新時間:2019-09-23 點擊次數(shù):2042
 
X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。
X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。

 儀器采用美國新型的Si-pin探測器,電致冷而非液氮制冷,體積小、數(shù)據(jù)分析準確且維護成本低。采用自主研發(fā)的SES信號處理系統(tǒng),有效提高測量的靈敏度,讓測量更。一鍵式自動測試,使用更簡單,更方便,更人性化。八種光路校正準直系統(tǒng),根據(jù)不同樣品自動切換。 多重防輻射泄露設計。先進的一體化散熱設計,使整機散熱性能得到極大提高,保證了核心部件的運行安全。*的機芯溫控技術(shù),保證X射線源的安全可靠運行,有效延長其使用壽命,降低使用成本。多重儀器配件保護系統(tǒng),并可通過軟件進行全程監(jiān)控,讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全。ROHS測試軟件,標準視窗設計,界面友好,操作方便。


掃一掃,加微信

版權(quán)所有 © 2019 上海奧析科學儀器有限公司
備案號:滬ICP備13035263號-2 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 GoogleSitemap